設備型號：DS-J1080-TR
應用范圍：設備主要應用于晶圓級測試以及后端的封裝測試，評估芯片的性能和質量，確保合格的芯片進入后續的封裝。主要測試如電性等，并對晶圓進行AOI檢測，經檢測后的晶圓依其性能和缺陷劃分為不同等級并分類，最終放入Tray盤包裝。常用于工規、車規、航天航空等更高端領域芯片的測試。
主要特點：
設備特點：
1、全自動上下料
2、高速旋轉馬達處理，時產量高達 8K
3、水平24吸嘴，每個吸嘴獨立控制，垂直4*4吸嘴
4、配置4個BIN，配置電性測試
5、高精度的AOI檢測系統
6、配置MES功能，對產品數據全程追溯
7、支持多次分BIN
主要參數:
| 主要參數 | 檢測功能 | 六面檢測 |
| 吸嘴數目 | 水平24吸嘴 4*4垂直吸嘴 | |
| 放置精度 | ±100um | |
Bin個數 | ABCD4個Bin | |
| 上料方式 | Wafer自動上料 | |
| 下料方式 | Tray盤、華夫盒等 | |
| Wafer尺寸 | 4,6,8,12寸 | |
| Die尺寸 | 0.5x0.5 mm to 30.0x30.0mm | |
| Die厚度 | 0.1mm up to 1.5 mm | |
| UPH | 8K-24K | |
| 測試功能 | 具備 | |
| 二次分Bin | 具備 | |
| 紅外光學系統 | 具備 |
加工效果：
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